一、概述

SE-Vi 是一款集成式原位光谱椭偏仪，针对有机/无机镀 膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化 开发，快速实现光学薄膜原位表征分析。

二、测试案例

成膜工艺监控

膜厚表征

三、产品应用

广泛应用于金属薄膜、有机薄膜、无机薄膜的物理/化学气相沉积，ALD沉积等光学薄膜工艺过程中实际原位在线监测并实时反馈测量物性数据。

 下载链接

  产品资料.rar                       点击下载

  发布时间：2021-08-08 15:06

  永久有效

咨询厂商了解更多